布鲁克X射线衍射系统
D8 DISCOVER with Davanci Design
布鲁克公司D8 DISCOVER X射线衍射仪，材料研究领域的先进X射线衍射系统。配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。
布鲁克 D8 D8 ADVANCE X射线衍射仪
布鲁克AXS公司D8 ADVANCE X射线衍射仪，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让光路互换、重新对光等问题成为过去
主要应用
高分辨XRD(HRXRD)
外延多层膜厚度
晶胞参数
晶格错配
组份
应变及弛豫过程
横向结构
镶嵌度
X射线反射率(XRR)
薄膜厚度
组份
粗造度
密度
孔隙度
倒易空间图谱(RSM)
晶胞参数
晶格错配
组份
取向
弛豫
横向结构
面内掠入射衍射 (in-plane GID)
掠入射小角X射线散射(GISAXS)
晶胞参数
晶格错配
横向关联性
取向
物相组成
孔隙度
应力和织构分析
取向分布
取向定量
应变
外延关联
硬度
物相鉴定(Phase ID)
物相组成
d值确定
择优取向
晶格对称性
晶粒大小
