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X射线荧光光谱仪分析锂离子电池正极NCM三元材料的主次成分含量
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布鲁克X荧光光谱仪S8 TIGER 分析工业硅中的杂质元素含量
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在标准火花台上,包括氮的完整分析大约需要 40 秒,而使用双电极火花台只需 23 秒。这意味着:按一次启动,等待23秒,分析完成。
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布鲁克X射线荧光光谱仪荣获2021年“第七届铝硅质耐火原料博览会推荐奖”!
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钕铁硼磁性材料行业中,原料及产品的分析常用ICP光谱法分析,现在,X荧光光谱法在生产质量控制中逐步应用
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德国布鲁克X荧光光谱仪第二代S8 TIGER成功推出,采用HighSenseTM专利技术,保证从铍(4Be)到镅(95Am)的所有元素提供zei佳的灵敏度。
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